Дифракционный анализ поверхностных сверхструктур при осаждении Ge на Si(111)

Авторы	автор Дирко В. В. (Аспирант), автор Лозовой К. А. (Сотрудник)
Тип	Тезисы
Год	2019
Язык	русский
Отдел	Радиофизический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись	Дирко В.В., Лозовой К.А. Дифракционный анализ поверхностных сверхструктур при осаждении Ge на Si(111) //Школа молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем», 26-28 ноября 2019 г. : программа и тезисы докладов. Новосибирск: Дигит Про, 2019. С. 67.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность