Capacitance voltage characteristics of CdHgTe MIS structures with single quantum wells based on HgTe

Авторы автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Несмелов С. Н. (Сотрудник), автор Дзядух С. М. (Сотрудник)
Тип Тезисы
Год 2015
Язык английский
Отдел Научное управление, лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ)
Библиографическая запись Voitsekhovskii A. V., Nesmelov Sergei Nikolaevich, Dziadukh Stanislav Mikhailovich. Capacitance voltage characteristics of CdHgTe MIS structures with single quantum wells based on HgTe //СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии. Материалы 25 -й Международной Крымской конференции. Том 1. Севастополь, 2015. P. 735-736.
Направление науки
УДК