ТГУ.Сотрудники
High-frequency imaging for flaw detection of microelectronics elements with high resolution
| Авторы | автор Жакупов С. Н. (Студент), автор Бадьин А. В. (Сотрудник) |
| Тип | Статья в журнале |
| Год | 2020 |
| Язык | английский |
| Отдел | Научное управление, научная лаборатория терагерцовых исследований (НУ) |
| Библиографическая запись | Zhakupov S.N., Badin A.V. High-frequency imaging for flaw detection of microelectronics elements with high resolution //Journal of Physics: Conference Series. 2020. Vol. 1499. P. 012006-1-012006-5. |
| Направление науки | |
| УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность