Model Based JUnit Testing

Авторы автор Громов М. Л. (Сотрудник), автор Прокопенко С. А. (Сотрудник), автор Шабалдина Н. В. (Сотрудник), автор Лапутенко А. В. (Сотрудник)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2019
Язык английский
Отдел Радиофизический факультет, Институт прикладной математики и компьютерных наук, каф. информационных технологий в исследовании дискретных структур (РФФ), кафедра компьютерной безопасности (ИПМКН)
Библиографическая запись Gromov M.L., Prokopenko S.A., Shabaldina N.V., Laputenko A.V. Model Based JUnit Testing //20th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices. EDM 2019 : conference proceedings. [S. l.]: IEEE, 2019. P. 139-142. URL: ISBN 978-1-7281-1753-9.
Направление науки
УДК