Microplasma Breakdown in GaAs-Based Avalanche S-Diodes Doped with Deep Fe Acceptors

Авторы	автор Копьев В. В. (Сотрудник), автор Прудаев И. А. (Сотрудник), автор Олейник В. Л. (Сотрудник)
Тип	Статья в журнале
Год	2023
Язык	английский
Отдел	Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", Радиофизический факультет, Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", каф. полупроводниковой электроники (РФФ)
Библиографическая запись	Prudaev I., Kopyev V., Oleinik V. Microplasma Breakdown in GaAs-Based Avalanche S-Diodes Doped with Deep Fe Acceptors // Physica Status Solidi B: Basic Research. 2023. Vol. 260, № 4. Art. num. 2200446. DOI: 10.1002/pssb.202200446
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность