Conduction mechanism of metal-TiO2–Si structures

Авторы автор Калыгина В. М. (Сотрудник), автор Егорова И. М. (Студент), автор Прудаев И. А. (Сотрудник), автор Толбанов О. П. (Сотрудник), автор Атучин В. В. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2017
Язык английский
Отдел Радиофизический факультет, каф. полупроводниковой электроники (РФФ)
Библиографическая запись V.M. Kalygina, I.M. Egorova, I.A. Prudaev, O.P. Tolbanov, V.V. Atuchin. Conduction mechanism of metal-TiO2–Si structures //Chinese Journal of Physics. 2017. Vol. 55, № 1. P. 59-63.
Направление науки
УДК