Conduction mechanism of metal-TiO2–Si structures
Авторы | автор Калыгина В. М. (Сотрудник), автор Егорова И. М. (Студент), автор Прудаев И. А. (Сотрудник), автор Толбанов О. П. (Сотрудник), автор Атучин В. В. (Сотрудник) |
Тип | Статья в журнале |
Год | 2017 |
Язык | английский |
Отдел | Радиофизический факультет, каф. полупроводниковой электроники (РФФ) |
Библиографическая запись | V.M. Kalygina, I.M. Egorova, I.A. Prudaev, O.P. Tolbanov, V.V. Atuchin. Conduction mechanism of metal-TiO2–Si structures //Chinese Journal of Physics. 2017. Vol. 55, № 1. P. 59-63. |
Направление науки | |
УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность