Stability of Electrical Characteristics of MOS Structures Based on Gallium Oxide

Авторы	автор Калыгина В. М. (Сотрудник), автор Петрова Ю. С. (Аспирант), автор Прудаев И. А. (Сотрудник), автор Толбанов О. П. (Сотрудник)
Тип	Статья в журнале
Год	2016
Язык	английский
Отдел	Радиофизический факультет, каф. полупроводниковой электроники (РФФ)
Библиографическая запись	V.M. Kalygina, Yu.S. Petrova, I.A. Prudaev, O.P. Tolbanov. Stability of Electrical Characteristics of MOS Structures Based on Gallium Oxide // Russian Physics Journal. 2016. Vol. 59, № 6. P. 757‒761. DOI: 10.1007/s11182-016-0833-5
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность