Relation between the structural and phase transformations in titanium-oxide films and the electrical and photoelectric properties of TiO2-Si structures

Авторы автор Калыгина В. М. (Сотрудник), автор Егорова И. М. (Студент), автор Новиков В. А. (Сотрудник), автор Прудаев И. А. (Сотрудник), автор Толбанов О. П. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2016
Язык английский
Отдел Радиофизический факультет, каф. полупроводниковой электроники (РФФ)
Библиографическая запись V.M. Kalygina, I.M. Egorova, V.A. Novikov, I.A. Prudaev, O.P. Tolbanov. Relation between the structural and phase transformations in titanium-oxide films and the electrical and photoelectric properties of TiO2-Si structures //Semiconductors. 2016. Vol. 50, № 9. P. 1156-1162.
Направление науки
УДК