Evaluations of crystal defects of 3C-SiCinline image film on Si(110) substrate

Авторы	автор Sambonsuge S. (Сотрудник другой организации), автор Ito S. (Сотрудник другой организации), автор Jiao S. (Сотрудник другой организации), автор Nagasawa H. (Сотрудник другой организации), автор Fukidome H. (Сотрудник другой организации), автор Филимонов С. Н. (Сотрудник), автор Suemitsu M. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2016
Язык	английский
Отдел	Физический факультет, каф. физики полупроводников (ФФ)
Библиографическая запись	Sambonsuge S., Shun Ito, Sai Jiao, Hiroyuki Nagasawa, Fukidome Hirokazu, Filimonov S., Suemitsu M. Evaluations of crystal defects of 3C-SiCinline image film on Si(110) substrate //Physica status solidi (a). 2016. Vol. 213, № 5. P. 1125-1129.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность