Characterization of optical quality of GaSe: Al crystals by exciton absorption peak parameter

Авторы автор Guo J. (Сотрудник другой организации), автор Xie J. J. (Сотрудник другой организации), автор Zhang L. M. (Сотрудник другой организации), автор Kokh K. A. (Сотрудник другой организации), автор Андреев Ю. М. (Сотрудник), автор Изаак Т. И. (Сотрудник), автор Ланский Г. В. (Сотрудник), автор Шайдуко А. В. (Сотрудник), автор Светличный В. А. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2014
Язык английский
Отдел Химический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", Физический факультет, каф. аналитической химии (ХФ), лаб. новых материалов и перспективных технологий (ОСП "СФТИ ТГУ"), каф. оптики и спектроскопии (ФФ)
Библиографическая запись Guo J., Xie J.-J., Zhang L.-M., Kokh K A, Andreev Yu.M., Izaak T.I., Lanskii G.V., Shajduko A.V., Svetlichny'j V.A. Characterization of optical quality of GaSe: Al crystals by exciton absorption peak parameter //Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 2014. Vol. 25. P. 1757-1760.
Направление науки
УДК