Исследование фоточувствительности к рентгеновскому излучению сенсоров на основе карбида кремния и монокристаллического сапфира

Авторы автор Шемерянкина А. В. (Сотрудник), автор Жидиков А. В. (Студент), автор Шаймерденова Л. К. (Сотрудник, Студент), автор Щербаков И. Д. (Сотрудник, Студент), автор Толбанов О. П. (Сотрудник), автор Зарубин А. Н. (Сотрудник), автор Чаштанов К. А. (Сотрудник, Студент), автор Скакунов М. С. (Сотрудник), автор Тяжев А. В. (Сотрудник), автор Винник А. Е. (Сотрудник)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2023
Язык русский
Отдел Радиофизический факультет, Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", каф. полупроводниковой электроники (РФФ), Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике"
Библиографическая запись Исследование фоточувствительности к рентгеновскому излучению сенсоров на основе карбида кремния и монокристаллического сапфира / А.В. Жидиков, А.Н. Зарубин, О.П. Толбанов, А.В. Шемерянкина [и др.] // Актуальные проблемы радиофизики: 10-я Международная научно-практическая конференция, 26-29 сентября 2023 г., г. Томск : сборник трудов конференции. Томск: Изд. дом Том. гос. ун-та, 2023. С. 175‒176.
Направление науки
УДК