Peculiarities of SiO2-MxOy (where M - Mn, Fe, Co, Ni) Thin Films Formation

Авторы автор Бричков А. С. (Сотрудник), автор Бричкова В. Ю. (Сотрудник), автор Егорова Л. А. (Сотрудник), автор Козик В. В. (Сотрудник), автор Иванов В. К. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2015
Язык английский
Отдел Химический факультет, каф. неорганической химии (ХФ), отдел новые материалы для электротехнической и химической промышленности (ХФ)
Библиографическая запись Brichkov A.S., Brichkova V.Yu., Egorova L.A., Kozik V.V., Ivanov V.K. Peculiarities of SiO2-MxOy (where M - Mn, Fe, Co, Ni) Thin Films Formation //Key Engineering Materials. 2016. Vol. 670. P. 44-48.
Направление науки
УДК