Cancer diagnosis by neural network analysis of data from semiconductor sensors

Авторы автор Чернов В. И. (Сотрудник другой организации), автор Чойнзонов Е. Л. (Сотрудник другой организации), автор Кульбакин Д. Е. (Сотрудник другой организации), автор Обходская Е. В. (Сотрудник), автор Обходский А. В. (Сотрудник), автор Попов А. С. (Сотрудник), автор Сачков В. И. (Сотрудник), автор Сачкова А. С. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в журнале
Год 2020
Язык английский
Отдел Научное управление, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", Лаборатория химических технологий (НУ), лаб. "инновационно-технологический центр" (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись Chernov V.I., Choynzonov E.L., Kulbakin D.E., Obkhodskya E.V., Obkhodskiy A.V., Popov A.S., Sachkov V.I., Sachkova A.S. Cancer diagnosis by neural network analysis of data from semiconductor sensors //Diagnostics. 2020. Vol. 10, № 9. P. 1-11. URL: https://www.mdpi.com/2075-4418/10/9/677.
Направление науки
УДК