Investigation of thick GaAs:Cr pixel sensors for X-ray imaging applications

Авторы	автор Tsigaridas S. (Сотрудник другой организации), автор Ponchut C. (Сотрудник другой организации), автор Толбанов О. П. (Сотрудник), автор Тяжев А. В. (Сотрудник), автор Зарубин А. Н. (Сотрудник)
Тип	Статья в журнале
Год	2021
Язык	английский
Отдел	Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике"
Библиографическая запись	Tsigaridas S., C. Ponchut, Tolbanov O.P., Tyazhev A.V., Zarubin A.N. Investigation of thick GaAs:Cr pixel sensors for X-ray imaging applications //Journal of Instrumentation. 2021. Vol. 16, № 1. P. P01032.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность