Electronic properties of SiC polytypes: Charge neutrality level and interfacial barrier heights

Авторы автор Брудный В. Н. (Сотрудник), автор Кособуцкий А. В. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2017
Язык английский
Отдел Научное управление, Физический факультет, лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), каф. физики полупроводников (ФФ)
Библиографическая запись Brudnyi V.N., Kosobutsky A.V. Electronic properties of SiC polytypes: Charge neutrality level and interfacial barrier heights //Superlattices and Microstructures. 2017. Vol. 111. P. 499-505.
Направление науки
УДК