Digital 3d x-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing
| Авторы | автор Клестов С. А. (Сотрудник), автор Сырямкин В. И. (Сотрудник), автор Сунцов С. Б. (Сотрудник другой организации) |
| Тип | Статья в журнале |
| Год | 2020 |
| Язык | английский |
| Отдел | Факультет инновационных технологий, каф. управления качеством (ФИТ) |
| Библиографическая запись | S A Klestov, V I Syryamkin, S B Suntsov. Digital 3d x-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing //Journal of Physics: Conference Series. 2020. Vol. 1499. P. 012045. |
| Направление науки | |
| УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность