Digital 3d x-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing

Авторы автор Клестов С. А. (Сотрудник), автор Сырямкин В. И. (Сотрудник), автор Сунцов С. Б. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в журнале
Год 2020
Язык английский
Отдел Факультет инновационных технологий, каф. управления качеством (ФИТ)
Библиографическая запись S A Klestov, V I Syryamkin, S B Suntsov. Digital 3d x-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing //Journal of Physics: Conference Series. 2020. Vol. 1499. P. 012045.
Направление науки
УДК