Design of Smart 3D-Digital X-Ray Microtomographic Scanners for Non-Destructive Testing of Materials and Components of Electronic Devices with a Multilayered Structure

Авторы автор Сырямкин В. И. (Сотрудник), автор Клестов С. А. (Сотрудник)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2014
Язык английский
Отдел Научное управление, международная лаборатория систем технического зрения (НУ)
Библиографическая запись Sy'ryamkin V.I., Klestov S.A., and 2 more. Design of Smart 3D-Digital X-Ray Microtomographic Scanners for Non-Destructive Testing of Materials and Components of Electronic Devices with a Multilayered Structure //Volume 21. Materials of XVIII International Scientific Symposium in Honour of Academician M. A. Usov: Problems of Geology and Subsurface Development. Bristol: IOP, 2014. URL: scitation.aip.org/content/aip/proceeding/aipcp/10.1063/1.4932917.
Направление науки
УДК