ТГУ.Сотрудники
Two-dimensional H2 in Si: Raman scattering and modeling study
| Авторы | автор Мельников В. В. (Сотрудник), автор Hiller M. (Сотрудник другой организации), автор Lavrov E. V. (Сотрудник другой организации) |
| Тип | Статья в журнале |
| Год | 2018 |
| Язык | английский |
| Отдел | Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", лаб. новых материалов и перспективных технологий (ОСП "СФТИ ТГУ"), Лаборатория конструкционных и функциональных материалов (ОСП "СФТИ ТГУ") |
| Библиографическая запись | Melnikov V.V., Hiller M., Lavrov E.V. Two-dimensional H2 in Si: Raman scattering and modeling study //Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics. 2018. Vol. 97, № 12. P. 125307-1-125307-11. |
| Направление науки | |
| УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность