Algorithm for Optimizing the Parameters of Sandwich X-ray Detectors

Авторы	автор Удод В. А. (Сотрудник), автор Назаренко С. Ю. (Сотрудник другой организации), автор Осипов С. П. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2023
Язык	английский
Отдел	Институт экономики и менеджмента, каф. информационных технологий и бизнес-аналитики (ИЭМ)
Библиографическая запись	Udod V.A., Osipov S.P., Nazarenko S.Yu. Algorithm for Optimizing the Parameters of Sandwich X-ray Detectors // Russian Journal of Nondestructive Testing. 2023. Vol. 59, № 3. P. 359‒373. DOI: 10.1134/S1061830923700298
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность