Algorithm for Optimizing the Parameters of Sandwich X-ray Detectors

Авторы автор Удод В. А. (Сотрудник), автор Осипов С. П. (Сотрудник другой организации), автор Назаренко С. Ю. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в журнале
Год 2023
Язык английский
Отдел Институт экономики и менеджмента, каф. информационных технологий и бизнес-аналитики (ИЭМ)
Библиографическая запись Udod V.A., Osipov S.P., Nazarenko S.Yu. Algorithm for Optimizing the Parameters of Sandwich X-ray Detectors // Russian Journal of Nondestructive Testing. 2023. Vol. 59, № 3. P. 359‒373.
Направление науки
УДК