Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения .

Авторы автор Беличенко В. П. (Сотрудник), автор Запасной А. С. (Сотрудник), автор Мироньчев А. С. (Сотрудник), автор Клоков А. В. (Сотрудник), автор Матвиевский Е. В. (Студент)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2019
Язык русский
Отдел Радиофизический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. радиофизики (РФФ), лаб. "методы,системы и технологии безопасности" (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись Беличенко В.П., Запасной А.С., Мироньчев А.С., Клоков А.В., Матвиевский Е.В. Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения . //Актуальные проблемы радиофизики. АПР-2019 : 8-я Международная научно-практическая конференция, г. Томск, 1-4 октября 2019 г. : сборник трудов конференции. Томск: Издательский Дом Томского государственного университета, 2019. С. 84-86.
Направление науки
УДК