Метод измерения отражающих свойств поверхности космических рефлекторов и их программно-аппаратная коррекция

Авторы автор Мироньчев А. С. (Сотрудник, Аспирант), автор Клоков А. В. (Сотрудник), автор Шипилов С. Э. (Сотрудник), автор Якубов В. П. (Сотрудник)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2014
Язык русский
Отдел Радиофизический факультет, каф. радиофизики (РФФ)
Библиографическая запись Мироньчев А.С., Клоков А.В., Шипилов С.Э., Якубов В.П. Метод измерения отражающих свойств поверхности космических рефлекторов и их программно-аппаратная коррекция //Актуальные проблемы радиофизики. Труды Международной молодежной научной школы. Томск. 09.10-12.10.2014. Томск: Изд-во НТЛ, 2014. С. 25-28.
Направление науки
УДК