Deriving FSM-based tests using a,b−faults for Logic Circuits

Авторы	автор Лапутенко А. В. (Сотрудник, Студент), автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Андреева В. В. (Сотрудник), автор Евтушенко Н. В. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год	2022
Язык	английский
Отдел	Институт прикладной математики и компьютерных наук, Радиофизический факультет, кафедра компьютерной безопасности (ИПМКН), каф. информационных технологий в исследовании дискретных структур (РФФ)
Библиографическая запись	Laputenko A., Yevtushenko N., Andreeva V., Matrosova A. Deriving FSM-based tests using a,b−faults for Logic Circuits // 2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : proceedings. [Los Alamitos], 2022. P. 80‒85. DOI: 10.1109/ISVLSI54635.2022.00027
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность