Constructing a Sequence Detecting Robustly Testable Path Delay Faults in Sequential Circuits

Авторы автор Чернышов С. В. (Сотрудник, Аспирант), автор Николаева Е. А. (Сотрудник), автор Ким О. Х. (Сотрудник), автор Матросова А. Ю. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2021
Язык английский
Отдел Институт прикладной математики и компьютерных наук, кафедра компьютерной безопасности (ИПМКН)
Библиографическая запись Matrosova A.Yu., Chernyshov S.V., Kim O.Kh., Nikolaeva E.A. Constructing a Sequence Detecting Robustly Testable Path Delay Faults in Sequential Circuits // Automation and Remote Control. 2021. Vol. 82, № 11. P. 1949‒1965. DOI: 10.1134/S0005117921110102
Направление науки
УДК