A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test

Авторы	автор Ahlawat S. (Аспирант другой организации - Indian Institute of Technology, Mumbai), автор Tudu J. (Аспирант другой организации - Indian Institute of Technology, Mumbai), автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Singh V. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2018
Язык	английский
Отдел	Институт прикладной математики и компьютерных наук, кафедра программирования (ИПМКН)
Библиографическая запись	Ahlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность