Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design

Авторы	автор Shah T. (Сотрудник другой организации), автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Fujita M. (Сотрудник другой организации), автор Virendra S. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2018
Язык	английский
Отдел	Институт прикладной математики и компьютерных наук, кафедра программирования (ИПМКН)
Библиографическая запись	Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность