A New Scan Flip Flop Design to Eliminate Performance Penalty of Scan

Авторы	автор Ahlawat S. (Аспирант другой организации - Indian Institute of Technology, Mumbai), автор Tudu J. (Аспирант другой организации - Indian Institute of Technology, Mumbai), автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Singh V. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год	2015
Язык	английский
Отдел	Факультет прикладной математики и кибернетики, каф. программирования (ФПМК)
Библиографическая запись	Ahlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A New Scan Flip Flop Design to Eliminate Performance Penalty of Scan //2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS). Mumbai: IEEE Computer Society, 2015. P. 25-30. http://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=7421875.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность