Properties of pairs of test vectors detecting path delay faults in high performance VLSI logical circuits

Авторы автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Липский В. Б. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2015
Язык английский
Отдел Факультет прикладной математики и кибернетики, каф. программирования (ФПМК)
Библиографическая запись Matrosova A.Yu., Lipskii V.B. Properties of pairs of test vectors detecting path delay faults in high performance VLSI logical circuits // Automation and Remote Control. 2015. Vol. 76, № 4. P. 658‒667. DOI: 10.1134/S0005117915040104
Направление науки
УДК