Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design

Авторы	автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Останин С. А. (Сотрудник), автор Николаева Е. А. (Сотрудник), автор Кириенко И. Е. (Студент)
Тип	Статья в журнале
Год	2015
Язык	английский
Отдел	Факультет прикладной математики и кибернетики, каф. программирования (ФПМК)
Библиографическая запись	Matrosova A.Yu., Ostanin S.A., Nikolaeva E. A., Kirienko I.E. Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4(33). P. 82‒90.
Направление науки
УДК	681.5.09

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность