Свойства пар тестовых наборов, обнаруживающих неисправности задержек путей в логических схемах VLSI высокой производительности

Авторы	автор Матросова А. Ю. (Сотрудник), автор Липский В. Б. (Сотрудник)
Тип	Статья в журнале
Год	2015
Язык	русский
Отдел	Факультет прикладной математики и кибернетики, каф. программирования (ФПМК), каф. защиты информации и криптографии (ФПМК)
Библиографическая запись	Матросова А.Ю., Липский В.Б. Свойства пар тестовых наборов, обнаруживающих неисправности задержек путей в логических схемах VLSI высокой производительности // Автоматика и телемеханика. 2015. № 4. С. 135‒148.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность