Advanced SnO2 Thin Films: Stability and Sensitivity in CO Detection
Авторы | автор Сергейченко Н. В. (Сотрудник), автор Малиновская Т. Д. (Сотрудник), автор Максимова Н. К. (Сотрудник), автор Жек В. В. (Сотрудник), автор Черников Е. В. (Сотрудник) |
Тип | Статья в журнале |
Год | 2024 |
Язык | английский |
Отдел | Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", лаб. оптических материалов и покрытий (ОСП "СФТИ ТГУ"), лаб. полупроводниковых приборов (ОСП "СФТИ ТГУ"), лаборатория металлооксидных полупроводников (ЦИР ПТМ) |
Библиографическая запись | Advanced SnO2 Thin Films: Stability and Sensitivity in CO Detection / N.K. Maksimova, T.D. Malinovskaya, V.V. Zhek, N.V. Sergeychenko [et al] // International Journal of Molecular Sciences. 2024. Vol. 25, № 23. Art. num. 12818. URL: https://doi.org/10.3390/ijms252312818. |
Направление науки | |
УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность