Advanced SnO2 Thin Films: Stability and Sensitivity in CO Detection

Авторы автор Сергейченко Н. В. (Сотрудник), автор Малиновская Т. Д. (Сотрудник), автор Максимова Н. К. (Сотрудник), автор Жек В. В. (Сотрудник), автор Черников Е. В. (Сотрудник)
Тип Статья в журнале
Год 2024
Язык английский
Отдел Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", Центр исследований и разработок "Перспективные технологии в микроэлектронике", лаб. оптических материалов и покрытий (ОСП "СФТИ ТГУ"), лаб. полупроводниковых приборов (ОСП "СФТИ ТГУ"), лаборатория металлооксидных полупроводников (ЦИР ПТМ)
Библиографическая запись Advanced SnO2 Thin Films: Stability and Sensitivity in CO Detection / N.K. Maksimova, T.D. Malinovskaya, V.V. Zhek, N.V. Sergeychenko [et al] // International Journal of Molecular Sciences. 2024. Vol. 25, № 23. Art. num. 12818. URL: https://doi.org/10.3390/ijms252312818.
Направление науки
УДК