Effect of additives of Pt, Pd, Ag, and Y in thin nanocrystalline SnO2 films on the characteristics of resistive hydrogen sensors
Авторы | автор Севастьянов Е. Ю. (Сотрудник), автор Максимова Н. К. (Сотрудник), автор Потекаев А. И. (Сотрудник), автор Алмаев А. В. (Студент), автор Черников Е. В. (Сотрудник), автор Сергейченко Н. В. (Сотрудник), автор Ким С. (Студент) |
Тип | Статья в журнале |
Год | 2018 |
Язык | английский |
Отдел | Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", Радиофизический факультет, лаб. новых материалов и перспективных технологий (ОСП "СФТИ ТГУ"), каф. полупроводниковой электроники (РФФ) |
Библиографическая запись | Effect of additives of Pt, Pd, Ag, and Y in thin nanocrystalline SnO2 films on the characteristics of resistive hydrogen sensors / Sevast`yanov E.Y., Maksimova N.K., Potekaev A.I., Almaev A.V. [et al] // Russian Physics Journal. 2018. Vol. 61, № 5. P. 979‒988. DOI: 10.1007/s11182-018-1486-3 |
Направление науки | |
УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность