Механизмы дефектообразования рентгеновским излучением на границе раздела поверхностный окисел – антимонид индия
| Авторы | автор Рамакоти Р. Ш. (Сотрудник другой организации), автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Андрейчиков К. С. (Сотрудник другой организации), автор Степаненко А. А. (Сотрудник другой организации), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник) |
| Тип | Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др. |
| Год | 2026 |
| Язык | русский |
| Отдел | Научное управление, Радиофизический факультет, лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ) |
| Библиографическая запись | Механизмы дефектообразования рентгеновским излучением на границе раздела поверхностный окисел – антимонид индия / А.В. Войцеховский, В.Г. Средин, Р.Ш. Рамакоти, А.А. Степаненко [и др.] // XII Международная конференция «Лазерные, плазменные исследования и технологии – ЛаПлаз-2026» : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2026. С. 292. |
| Направление науки | |
| УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность