Исследование токов поверхностной утечки nBn HgCdTe фоточувствительной структуры со сверхрешёточным барьером, детектирующей излучения в длинноволновом инфракрасном диапазоне спектра

Авторы	автор Дворецкий С. А. (Сотрудник), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Дзядух С. М. (Сотрудник), автор Сидоров Г. Ю. (Сотрудник другой организации), автор Михайлов Н. Н. (Сотрудник), автор Горн Д. И. (Сотрудник), автор Якушев М. В. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2025
Язык	русский
Отдел	Радиофизический факультет, Научное управление, каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ)
Библиографическая запись	Исследование токов поверхностной утечки nBn HgCdTe фоточувствительной структуры со сверхрешёточным барьером, детектирующей излучения в длинноволновом инфракрасном диапазоне спектра / А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, Д.И. Горн, С.А. Дворецкий [и др.] // Прикладная физика. 2025. № 5. С. 15‒24. DOI: 10.51368/1996-0948-2025-5-15-24
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность