Влияние мягкого рентгеновского излучения на свойства границ раздела поверхностный диэлектрик – антимонид индия

Авторы автор Андрейчиков К. С. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Степаненко А. А. (Сотрудник другой организации), автор Рамакоти Р. Ш. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2025
Язык русский
Отдел Научное управление, Радиофизический факультет, лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ)
Библиографическая запись Влияние мягкого рентгеновского излучения на свойства границ раздела поверхностный диэлектрик – антимонид индия / А.В. Войцеховский, В.Г. Средин, А.П. Мелехов, Р.Ш. Рамакоти [и др.] // XI Международная конференция «Лазерные, плазменные исследования и технологии – ЛаПлаз-2025» : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2025. С. 204.
Направление науки
УДК