Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Авторы автор Степанченко А. В. (Сотрудник другой организации), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Рамакоти Р. Ш. (Сотрудник другой организации), автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2024
Язык русский
Отдел Радиофизический факультет, каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ)
Библиографическая запись Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением / А.В. Войцеховский, В.Г. Средин, А.В. Степанченко, А.П. Мелехов [и др.] // XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024, Москва : материалы конференции. М.: АО «НПО «Орион», 2024. С. 339‒341. DOI: 10.51368/978-5-94836-696-8-2024-339
Направление науки
УДК