High-resolution RHEED analysis of dynamics of low-temperature superstructure transitions in Ge/Si(001) epitaxial system

Авторы	автор Дирко В. В. (Аспирант), автор Коханенко А. П. (Сотрудник), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Лозовой К. А. (Сотрудник)
Тип	Статья в журнале
Год	2022
Язык	английский
Отдел	Научное управление, Радиофизический факультет, лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ)
Библиографическая запись	Dirko V.V., Lozovoy K.A., Kokhanenko A.P., Voitsekhovskii A.V. High-resolution RHEED analysis of dynamics of low-temperature superstructure transitions in Ge/Si(001) epitaxial system // Nanotechnology. 2022. Vol. 33, № 11. P. 115603-1‒115603-8. DOI: 10.1088/1361-6528/ac3f56
Направление науки
УДК
Ссылка на экземпляр в электронной библиотеке	https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-search.pl?q=control-number:koha000926716

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность