Peculiarities of the external photoelectric effect in narrow-band sem-iconductors caused by soft X-ray radiation

Авторы	автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Рамакоти Р. Ш. (Сотрудник другой организации)
Тип	Тезисы
Год	2020
Язык	английский
Отдел	Радиофизический факультет, Научное управление, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись	Sredin V.G., Voitsekhovskii A.V., Melekhov A.P., Ramakoti R.S. Peculiarities of the external photoelectric effect in narrow-band sem-iconductors caused by soft X-ray radiation // 7th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE-2020 online) : abstracts, 14-25 september 2020, Tomsk. Tomsk: Publishing House of IAO SB RAS, 2020. P. 461. 1 CD-ROM.
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность