Микроскопический механизм формирования поверхностных дефектов в CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением
Авторы | автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Ананьин О. Б. (Сотрудник другой организации), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Рамакоти Р. Ш. (Сотрудник другой организации), автор Юрчак В. А. (Сотрудник другой организации) |
Тип | Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др. |
Год | 2020 |
Язык | русский |
Отдел | Радиофизический факультет, Научное управление, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ") |
Библиографическая запись | Микроскопический механизм формирования поверхностных дефектов в CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением / Войцеховский А.В., Средин В.Г., Ананьин О.Б., Мелехов А.П. [и др.] // IX Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2020. С. 503‒504. |
Направление науки | |
УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность