Релаксация электрофизических параметров эпитаксиальных пленок КРТ при воздействии высокочастотного наносекудного объемного разряда в воздухе атмосферного давления

Авторы автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Григорьев Д. В. (Сотрудник), автор Ермаченков П. А. (Студент), автор Тарасенко В. Ф. (Сотрудник другой организации), автор Шулепов М. А. (Сотрудник другой организации), автор Ерофеев М. В. (Сотрудник другой организации), автор Рипенко В. С. (Сотрудник другой организации), автор Дворецкий С. А. (Сотрудник другой организации), автор Михайлов Н. Н. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в журнале
Год 2018
Язык русский
Отдел Радиофизический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись Релаксация электрофизических параметров эпитаксиальных пленок КРТ при воздействии высокочастотного наносекудного объемного разряда в воздухе атмосферного давления / Войцеховский А.В., Григорьев Д.В., Ермаченков П.А., Тарасенко В.Ф. [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 8/2. С. 132‒136.
Направление науки
УДК 621.315.592