Investigation of the effect of soft X-ray radiation on the electrophysical characteristics of n-CdxHg1-xTe epitaxial layers

Авторы	автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Ананьин О. Б. (Сотрудник другой организации), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Несмелов С. Н. (Сотрудник), автор Дзядух С. М. (Сотрудник), автор Юрчак В. А. (Сотрудник другой организации)
Тип	Статья в журнале
Год	2018
Язык	английский
Отдел	Радиофизический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись	Investigation of the effect of soft X-ray radiation on the electrophysical characteristics of n-CdxHg1-xTe epitaxial layers / Voitsekhovskii A.V., Nesmelov S.N., Dzyadukh S.M., Sredin V.G. [et al] // Journal of Physics: Conference Series. 2018. Vol. 1115. P. 032057-1‒032057-5. DOI: 10.1088/1742-6596/1115/3/032057
Направление науки
УДК

Учебная деятельность

Научная деятельность

Конкурсная деятельность