ТГУ.Сотрудники
Investigation of the effect of soft x-ray radiation on the electrophysical characteristics of epitaxial layers n-Hg1-xCdxTe
| Авторы | автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Средин В. Г. (Сотрудник другой организации), автор Ананьин О. Б. (Сотрудник другой организации), автор Мелехов А. П. (Сотрудник другой организации), автор Несмелов С. Н. (Сотрудник), автор Дзядух С. М. (Студент), автор Юрчак В. А. (Сотрудник другой организации) |
| Тип | Тезисы |
| Год | 2018 |
| Язык | английский |
| Отдел | Радиофизический факультет, Научное управление, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), лаб. наноэлектроники и нанофотоники (НУ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ") |
| Библиографическая запись | Voitsekhovskii A.V., Sredin V.G., Anan`in O.B., Melekhov A.P., Nesmelov S.N., Dziadukh S.M., Yurchak V.A. Investigation of the effect of soft x-ray radiation on the electrophysical characteristics of epitaxial layers n-Hg1-xCdxTe //6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE 2018), 16-22 september 2018, Tomsk : abstracts. Tomsk: TPU Publishing House, 2018. P. 353. |
| Направление науки | |
| УДК |
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность