Transmission Electron Microscopy Study of HgTe/CdHgTe Quantum Wells

Авторы автор Ижнин И. И. (Сотрудник), автор Бончик А. Ю. (Сотрудник другой организации), автор Савицкий Г. В. (Сотрудник другой организации), автор Swiatek Z. (Сотрудник другой организации), автор Morgiel Y. (Сотрудник другой организации), автор Войцеховский А. В. (Сотрудник), автор Коротаев А. Г. (Сотрудник), автор Михайлов Н. Н. (Сотрудник другой организации), автор Варавин В. С. (Сотрудник другой организации), автор Дворецкий С. А. (Сотрудник), автор Мынбаев К. Д. (Сотрудник другой организации), автор Фицыч Е. И. (Сотрудник другой организации)
Тип Статья в сборнике материалов конференций, симпозиумов и др.
Год 2018
Язык английский
Отдел Радиофизический факультет, Обособленное структурное подразделение "Сибирский физико-технический институт", каф. квантовой электроники и фотоники (РФФ), научно образовательный центр «Функциональные материалы радио и оптоэлектроники» (ОСП "СФТИ ТГУ")
Библиографическая запись Transmission Electron Microscopy Study of HgTe/CdHgTe Quantum Wells / Voitsekhovskii A.V., Korotaev A.G., Izhnin I.I., Bonchyk O.Yu. [et al] // Proceedings of the 2018 IEEE 8th International Conference on Nanomaterials: Applications & Properties (NAP-2018) Part 2. Sumy: Sumy State University, 2018. P. 02PN05-1‒02PN05-4.
Направление науки
УДК