Новиков Вадим Александрович
Публикации


Novikov V.A., Voitsekhovskii A.V., Nesmelov S.N., Dzyadukh S.M., Kopylova T.N., Degtyarenko K.M., Chernikov E.V., Kalygina V.M. Electrophysical Characteristics of the Pentacene-based MIS Structures with a SiO2 Insulator //Russian Physics Journal. 2019. Vol. 62, № 1. P. 90-99.
Новиков В.А., Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Дзядух С.М., Копылова Т.Н., Дегтяренко К.М., Черников Е.В., Калыгина В.М. Электрофизические характеристики МДП-структур на основе пентацена с диэлектриком SiO2 //Известия вузов. Физика. 2019. Т. 62, № 1. С. 79-87.
В.А. Новиков, Р.М. Гадиров, Т.Н. Копылова, Т.А. Солодова, И.А. Бобровникова, И.В. Ивонин, Терещенко Е.В. Изменение морфологии поверхности кристаллов антрацена при отжиге //Известия вузов. Физика. 2019. Т. 62, № 6. С. 135-138.
Voitsekhovskii A.V., Nesmelov S.N., Novikov V.A., Dzyadukh S.M., Kopylova T.N., Ivonin I.V., Degtyarenko K.M., Tereshhenko E.V. Admittance characterization of pentacene metal-insulator-semiconductor capacitorswith SiO2 and SiO2/Ga2O3 insulators in temperature range of 9-300 K //Thin Solid Films. 2019. № in press. P. 1-7.
Timofeev V.A., Nikiforov A.I., Yakimov A.I., Mashanov V.I., Loshkarev I.D., Bloshkin A.A., Kirienko V.V., Novikov V.A., Kareva K.V. Studying the morphology, structure and band diagram of thin GeSiSn films and their mid-infrared photoresponse //Semiconductor Science and Technology. 2018. Vol. 34, № 1. P. 014001-1-014001-8.
Lygdenova T.Z., Kalygina V.M., Novikov V.A., Prudaev I.A., Tolbanov O.P., Tyazhev A.V. Properties of Gallium Oxide Films Obtained by HF-Magnetron Sputtering //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 11. P. 1911-1916.
Т.З. Лыгденова, В.М. Калыгина, В.А. Новиков, И.А. Прудаев, О.П. Толбанов, Тяжев А.В. Свойства пленок оксида галлия, полученных ВЧ-магнетронным напылением //Известия вузов. Физика. 2017. Т. 60, № 11. С. 56-60.
Shelkovnikov V.V., Liubas G.A., Kopylova T.N., Tel`minov E.N., Gadirov R.M., Nikonova E.N., Nikonov S. Yu., Solodova T.A., Novikov V.A. Lasing of a Solid-State Active Element Based on Anodized Aluminum Oxide Film Doped with Rhodamine 6G //Russian Physics Journal. 2017. Vol. 59, № 12. P. 1989-1995.
Timofeev V.A., Nikiforov A.I., Koxanenko A.P., Tuktamyshev A. R., Mashanov V.I., Novikov V.A. Growth of Epitaxial SiSn Films with High Sn Content for IR Converters //Russian Physics Journal. 2017. Vol. 60, № 2. P. 354-359.
V.A. Novikov, D.V. Grigoryev, D.A. Bezrodnyy, A.V. Voitsekhovskii, S.A. Dvoretsky, N.N. Mikhailov. Electrical Properties of the V-Defects of Epitaxial HgCdTe //JEM. 2017. Vol. 46, № 7. P. 4435-4438.
Denis V. Grigoryev, Vadim A. Novikov, Pavel A. Brudnyi, Anna M. Bogatyreva, Victor F. Tarasenko, Michail A. Shulepov. The influence of pulsed volume nanosecond discharGe in air at atmospheric pressure on the surface potential distribution of MIS-structures based on p-CdHgTe in the V-defect region //International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: Abstracts. Tomsk: TPU Publishing House, 2016. P. 272.
V.A. Novikov, D.V. Grigoryev, A.V. Voitsekhovskii, S.A. Dvoretsky, N.N. Mikhailov. Investigation of the surface-potential distribution of epitaxial CdHgTe films //Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2016. Vol. 5, № 1. P. 1096-1100.
V.M. Kalygina, I.M. Egorova, V.A. Novikov, I.A. Prudaev, O.P. Tolbanov. Relation between the structural and phase transformations in titanium-oxide films and the electrical and photoelectric properties of TiO2-Si structures //Semiconductors. 2016. Vol. 50, № 9. P. 1156-1162.
Больбасов Е.Н., Антонова Л.В., Матвеева В.Г., Новиков В.А., Шестериков Е.В., Богомолова Н.Л., Головкин А.С., Твердохлебов С.И., Барбараш О.Л., Барбараш Л.С. Изменение поверхностных свойств и биосовметимости матриксов из поликапролактона, модифицированных плазмой высокочастотного магнетронного разряда //Биомедицинская химия. 2016. Т. 62, № 1. С. 53-63.
Новиков В.А., Григорьев Д.В., Войцеховский А.В., Дворецкий С.А. Исследование распределения поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок CdHgTe //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 10. С. 108-112.
Новиков В.А. Особенности определения шероховатости поверхности методом сканирующей зондовой микроскопии //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 5. С. 109-112.
Krivobokov V.P., Penkova O.V., Novikov V.A. The oxygen-deficient TiO2 films deposited by a dual magnetron sputtering //Vacuum. 2016. Vol. 134. P. 29-32.