ТГУ.Сотрудники

Матросова Анжела Юрьевна

Публикации

Общее число записей - 91
81 Матросова А.Ю., Останин С.А., Бухаров А.В., Кириенко И.Е. Поиск всех тестовых наборов для неисправности логической схемы и представление их ROBDD-графом //Новые информационные технологии в исследовании сложных структур: материалы Десятой российской конференции с международным участием. Томск: Издательский Дом ТГУ, 2014. С. 53-54.
82 Matrosova A.Yu., Mitrofanov E.V. Fully delay testable sequential circuits and problem of their structural minimization //Proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference. Tallinn, Estonia, 2014. P. 93-96.
83 Matrosova A.Yu., Ostanin S.A., Kirienko I.E. Generating all test patterns for stuck-at faults at a gate pole and their connection with the incompletely specified Boolean function of the corresponding subcircuit //Proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference. Tallinn, Estonia, 2014. P. 85-88.
84 Matrosova A.Yu., Ostanin S.A., Kirienko I.E., Singh V. Partially programmable Circuit Design //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2014). Kiev, Ukraine, 2014. P. 164-167.
85 Matrosova A.Yu., Mitrofanov E.V., Rumyanceva E.V. Combinational Part Structure Simplification of Fully delay Testable Sequential Circuit //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2014). Kiev, Ukraine, 2014. P. 168-172.
86 Matrosova A.Yu., Kudin D.V., Nikolaeva E.A. Combinational Circuits without False Paths //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2014). Kiev, Ukraine, 2014. P. 179-184.
87 Matrosova A.Yu., Ostanin S.A., Kirienko I.E. All Stuck-at Fault Test Patterns and Incompletely Specified Boolean Functions //Proceeding of the 11th International Workshop on Boolean Problems. Freiberg, Germany, 2014. P. 165-170.
88 Матросова А.Ю. Памяти Аркадия Дмитриевича Закревского // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2014. № 2(27). С. 90‒91.
89 Матросова А.Ю., Останин С.А., Бухаров А.В., Кириенко И.Е. Поиск всех тестовых наборов для неисправности логической схемы и представление их ROBDD-графом // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2014. № 2(27). С. 82‒89.
90 Матросова А.Ю., Останин С.А., Кириенко И.Е. Обеспечение надежности физических систем: синтез частично программируемых логических схем //Известия вузов. Физика. 2014. Т. 57, № 6. С. 127-132.
91 E. Nikolaeva, S. Ostanin, A. Matrosova, V. Singh. PDFs Testing of Circuits Based on Covering BDDs //Proc. of the WiP Session of the 14th EUROMICRO Conference on Digital System Design. Оулу, 2011. P. 15-16.
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность