Матросова Анжела Юрьевна

Публикации

Общее число записей - 87
41 Ahlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331.
42 Matrosova A., Ostanin S. Trojan Circuits Masking and Debugging of Combinational Circuits with LUT Insertion // 2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics. AQTR 2018 (THETA 21), 24-26 may 2018, Cluj-Napoca, Romania. [Cluj-Napoca], 2018. P. 462‒467. 1 электрон. опт. диск (CD-R).
43 Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65.
44 Detection and masking of trojan circuits in sequential logic / Matrosova A.Y., Mitrofanov E.V., Ostanin S.A., Butorina N.B. [et al] // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2018. № 42. P. 89‒99. DOI: 10.17223/19988605/42/10
45 Finding false paths in sequential circuits / Matrosova A.Y., Andreeva V.V., Chernyshov S.V., Rozhkova S.V. [et al] // Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 10. P. 1837‒1844. DOI: 10.1007/s11182-018-1290-0
46 Матросова А.Ю., Останин С.А., Николаева Е.А. Синтез частично программируемых схем, ориентированный на маскирование вредоносных подсхем (Trojan Circuits) // Труды Института системного программирования РАН. 2017. Т. 29, № 5. С. 61‒74. DOI: 10.15514/ISPRAS-2017-29(5)-4
47 Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Preventing and masking Trojan circuits triggering out of working area //2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), 4-6 september, 2017, Catania. Catania: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-4. URL: http://ieeexplore.ieee.org/document/8093301/.
48 Matrosova A.Yu., S.A. Ostanin, I.E. Kirienko, E.A. Nikolaeva. A fault-tolerant sequential circuit design for stuck-at faults and path delay faults // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2017. № 41. P. 61‒68.
49 Обнаружение ложных путей в последовательностных схемах / Матросова А.Ю., Андреева В.В., Чернышов С.В., Рожкова С.В. [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 10. С. 170‒178.
50 Matrosova A., Mitrofanov E.V., Ostanin S., Nikolaeva E. Detection and Masking of Trojan Circuits in Sequential Logic // Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2017) Novi Sad, Serbia, 29 september - 2 october 2017. Kharkov: IEEE Computer Society, 2017. P. 137‒140. DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110101
51 Matrosova A., Ostanin S., Tretyakov D., Butorina N. Logic Circuit Design with Gates, LUTs and MUXs Oriented to Mask Faults // Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2017) Novi Sad, Serbia, 29 september - 2 october 2017. Kharkov: IEEE Computer Society, 2017. P. 95‒98. DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110096
52 Shah T, Matrosova A., Binod K., Masahiro F., Singh V. Testing multiple stuck-at faults of ROBDD based combinational circuit design //2017, 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) [Electronic resource], 13-15 march 2017. [Bogota]: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-6. URL: http://ieeexplore.ieee.org.
53 Shah T, Matrosova A., Singh V. Test Pattern Generation to Detect Multiple Faults in ROBDD based Combinational Circuits //2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 211-212. URL: http://rpsonline.com.sg/rps2prod/FEDfRo2017/e-Proceedings/IOLTS2017/html/107.xml.
54 Matrosova A., Mitrofanov E., Ostanin S., Kirienko I. Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits // 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 213‒214. URL: http://rpsonline.com.sg/rps2prod/FEDfRo2017/e-Proceedings/IOLTS2017/html/108.xml (date of access: 29.11.2022).
55 Matrosova A., Mitrofanov Е., Shax T. Simplification of fully delay testable combinational circuits and finding of PDF test pairs // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2017. № 39. С. 85‒93. DOI: 10.17223/19988605/39/11
56 Matrosova A.Yu., Kirienko I.E., Tomkov V.V., Miryutov A.A. Reliability of Physical Systems: Detection of Malicious Subcircuits (Trojan Circuits) in Sequential Circuits // Russian Physics Journal. 2016. Vol. 59, № 8. P. 1281‒1288. DOI: 10.1007/s11182-016-0903-8
57 Матросова А.Ю., Томков В.В. Использование точных оценок управляемости и наблюдаемости для выявления вредоносных подсхем (Trojan Circuits) в последовательностных схемах //Известия вузов. Физика. 2016. Т. 59, № 8/2. С. 68-71.
58 Останин С.А., Матросова А.Ю., Буторина Н.Б., Гребнев А.О. Синтез монотонных детекторов для подмножества равновесных кодов //Известия вузов. Физика. 2016. Т. 59, № 8/2. С. 79-81.
59 Останин С.А., Матросова А.Ю., Кириенко И.Е., Николаева Е.А. Синтез отказоустойчивых последовательностных схем для неисправностей задержек путей //Известия вузов. Физика. 2016. Т. 59, № 8/2. С. 76-78.
60 Ostanin S., Matrosova A., Butorina N., Lavrov V. A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for Soft Errors Based on Fault-Secure Circuit //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2016). Kharkov: IEEE Computer Society, 2016. P. 607-610.