Войцеховский Александр Васильевич
Публикации
Общее число записей - 603
561 | Горн Д.И., Войцеховский А.В., Ижнин И.И. Исследование спектров фотолюминесценции гетероструктур CdxHg1–xTe с квантовыми ямами //Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2011. № 3. С. 26-29 |
|
|
562 | Кульчицкий Н.А., Несмелов С.Н., Войцеховский А.В., Мельников А.А. Светоизлучающие гетероструктуры AlGaN/InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами //Нано- и микросистемная техника. 2011. № 5. С. 16-23. |
|
|
563 | Войцеховский А.В., Костюченко В.Я., Протасов Д.Ю. Влияние профиля варизонных приграничных облаcтей гетероструктур кадмий – ртуть – теллур p-типа на эффективную скорость поверхностной рекомбинации //Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54. № 7. С. 53-58 |
|
|
564 | Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Кульчицкий Н.А., Мельников А.А. Неохлаждаемые микроболометры на основе поликристаллического SiGe для инфракрасного диапазона //Нано- и микросистемная техника. 2011. № 2. С. 41-47 |
|
|
565 | Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Кульчицкий Н.А., Мельников А.А. МЭМС-детекторы инфракрасного диапазона //Нано- и микросистемная техника. 2011. № 7. С. 42-49. |
|
|
566 | Расчет вольт-фарадных характеристик МДП-структур на основе ГЭС HgCdTe МЛЭ с приповерхностными варизонными слоями с повышенным составом / Несмелов С.Н., Бурлаков И.Д., Селяков А.Ю., Войцеховский А.В. [и др.] // Прикладная физика. 2011. № 5. С. 80‒86. |
|
|
567 | Мармалюк А.А., Романов И.С., Коханенко А.П., Войцеховский А.В. Светодиодные структуры InGaN/GaN, изготовленные методом газофазной эпитаксии из металлорганических соединений //Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. 2011. Т. 24, № 2. С. 151-153. |
|
|
568 | Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Кульчицкий Н.А., Мельников А.А. Влияние дислокаций на внутреннюю квантовую эффективность светоизлучающих структур на основе квантовых ям InGaN/GaN //Нано- и микросистемная техника. 2011. № 8. С. 27-35 |
|
|
569 | Электрические характеристики МДП-структур на основе ГЭС HgCdTe МЛЭ с неоднородным распределением состава / Сидоров Ю.Г., Несмелов С.Н., Войцеховский А.В., Варавин В.С. [и др.] // Прикладная физика. 2011. № 2. С. 116‒121. |
|
|
570 | Сидоров Ю.Г., Войцеховский А.В., Дворецкий С.А., Дзядух С.М., Несмелов С.Н., Михайлов Н.Н. Электрические характеристики МДП-структур на основе МЛЭ n-Hg1-xCdxTe (x = 0.29-0.31) с резкими неоднородностями по составу //Известия вузов. Физика. 2011. Т. 54, № 3. С. 3-9. |
|
|
571 | Горн Д.И., Войцеховский А.В., Ижнин И.И. Наблюдение и анализ излучения в диапазоне 2,5–6 мкм в одиночной квантовой яме Cd0,24Hg0,76Te толщиной 12,5 нм при оптической накачке //Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. 2011. Т. 24, № 2. С. 142-146. |
|
|
572 | Shulga S. A., Sredin V. G., Voitsekhovskii A.V., Talipov N.Kh. Model representation of the transmission of high-power pulsed laser IR radiation in the fundamental absorption region in CdxHgl-xTe epitaxial layers // Russian Physics Journal. 2011. Vol. 53, № 9. P. 936‒942. |
|
|
573 | The electrical characteristics of MBE n-Hg1–x Cd x Te (x = 0.29–0.31) MIS structures with sharp inhomogeneities in composition / Dzyadukh S. M., Sidorov Yu.G., Voitsekhovskii A.V., Dvoretsky S.A. [et al] // Russian Physics Journal. 2011. Vol. 54, № 3. P. 263‒270. |
|
|
574 | Шулепов М.А., Коротаев А.Г., Григорьев Д.В., Войцеховский А.В., Коханенко А.П., Тарасенко В.Ф. Изменение электрофизических свойств узкозонных твердых растворов CdHgTe под воздействием объемного разряда, инициируемого пучком электронов лавин в воздухе атмосферного давления //Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54. № 10. С. 88-90 |
|
|
575 | Pociask-Bialy M., Izhnin I.I., Dvoretsky S.A., Sidorov Yu.G., Varavin V.S., Mikhailov N.N., Talipov N.H., Mynbaev K.D., Voitsekhovskii A. V. Ion milling-induced conductivity-type conversion in p-type HgCdTe MBE-grown films with graded-gap surface layers //Semiconductor Science and Technology. 2010. Vol. 25, № 6. P. 065012-1-065012-5. |
|
|
576 | Исследование электрофизических свойств МДП-структур на основе ГЭС КРТ МЛЭ / Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Дзядух С.М., Васильев В.В. [и др.] // Прикладная физика. 2010. № 6. С. 95‒99. |
|
|
577 | Горн Д.И., Войцеховский А.В., Ижнин И.И. Спектры излучения гетероструктур КРТ с одиночной квантовой ямой в диапазоне 3-6 мкм при оптической накачке //Известия вузов. Физика. 2010. Т. 53, № 9/3. С. 137-138. |
|
|
578 | Войцеховский А.В., Шульга С.А., Средин В.Г., Талипов Н.Х. Модельное представление пропускания мощного импульсного лазерного ИК-излучения в области фундаментального поглощения в эпитаксиальных слоях CdxHgl-xTe //Известия вузов. Физика. 2010. Т. 53, № 9. С. 54-58. |
|
|
579 | Пчеляков О.П., Двуреченский А.В., Никифоров А.И., Войцеховский А.В., Григорьев Д.В., Коханенко А.П. Наногетероструктуры Ge/Si с упорядоченными квантовыми точками Ge для применения в оптоэлектронике //Известия вузов. Физика. 2010. Т. 53, № 9. С. 59-64. |
|
|
580 | Войцеховский А.В., Коханенко А.П., Коротаев А.Г., Григорьев Д.В., Кульчицкий Н.А., Мельников А.А. Влияние облучения на характеристики фотодетекторов HgCdTe //Нано- и микросистемная техника. 2010. № 9. С. 48-52. |
|
Учебная деятельность
Научная деятельность
Конкурсная деятельность