Войцеховский Александр Васильевич

Участие в конференциях
Общее число докладов - 275
31) Фотоника 2023. Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых)
Уровень конференции Всероссийский с международным участием
Тема доклада Рост и характеризация nBn структур на основе СdхHg1-хTe для фотоприемников среднего и дальнего ИК диапазонов
Тип доклада секционный
Дата участия 04.09.2023 - 08.09.2023
32) Фотоника 2023. Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых)
Уровень конференции Всероссийский с международным участием
Тема доклада Состояние исследований в области создания униполярных барьерных структур МЛЭ n-HgCdTe со сверхрешётками в качестве барьера
Тип доклада стендовый
Дата участия 04.09.2023 - 08.09.2023
33) Лазерные, плазменные исследования и технологии. ЛаПлаз-2023. IX Международная конференция
Уровень конференции Международный
Тема доклада Механизм дефектообразования в МДП структурах на основе CdxHg1-xTe под действием мягкого рентгеновского излучения лазерной плазмы
Тип доклада заочное участие с публикацией доклада
Дата участия 28.03.2023 - 31.03.2023
34) Нанофизика и наноэлектроника. XXVII Международный симпозиум
Уровень конференции Международный
Тема доклада Электрофизические характеристики униполярных nBn- и МДП-структур на основе HgCdTe со сверхрешеткой в барьерной области
Тип доклада заочное участие с публикацией доклада
Дата участия 13.03.2023 - 16.03.2023
35) Нанофизика и наноэлектроника. XXVII Международный симпозиум
Уровень конференции Международный
Тема доклада Рост nBn-структур на основе твердых растворов СdHgTe для фотоприемников среднего и дальнего ИК-диапазонов
Тип доклада заочное участие с публикацией доклада
Дата участия 13.03.2023 - 16.03.2023
36) XII Международная конференция по фотонике и информационной оптике (XII International conference on photonics and information optics)
Уровень конференции Международный
Тема доклада Электрофизические характеристики униполярных NBN-структур на основе HgCdTe со сверхрешёткой в барьерной области
Тип доклада заочное участие с публикацией доклада
Дата участия 01.02.2023 - 03.02.2023
37) XV Российская конференция по физике полупроводников
Уровень конференции Всероссийский
Тема доклада Анализ сверхструктурных переходов при низкотемпературном росте наноструктур в системе Ge/S
Тип доклада стендовый
Дата участия 03.10.2022 - 07.10.2022
38) XV Российская конференция по физике полупроводников
Уровень конференции Всероссийский
Тема доклада Электрофизические характеристики униполярных NBN-структур на основе HgCdTe
Тип доклада стендовый
Дата участия 03.10.2022 - 07.10.2022
39) Кремний 2022. XIV Международная конференция и XIII Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе
Уровень конференции Международный
Тема доклада Исследования сверхструктурных переходов при эпитакcиальном росте Ge/Si и GeSi/Si
Тип доклада стендовый
Дата участия 26.09.2022 - 30.09.2022
40) Кремний 2022. XIV Международная конференция и XIII Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе
Уровень конференции Международный
Тема доклада Моделирование эпитаксиального формирования двумерных и нульмерных структур кремния и германия с учетом изменения зависимости их параметров от толщины
Тип доклада стендовый
Дата участия 26.09.2022 - 30.09.2022

Общее число публикаций в рамках конференций - 265
Публикации в рамках конференций
1 Механизмы дефектообразования рентгеновским излучением на границе раздела поверхностный окисел – антимонид индия / А.В. Войцеховский, В.Г. Средин, Р.Ш. Рамакоти, А.А. Степаненко [и др.] // XII Международная конференция «Лазерные, плазменные исследования и технологии – ЛаПлаз-2026» : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2026. С. 292.
2 Квантовые наноструктуры HgCdTe для ИК фотоприемников / Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, А.В. Войцеховский, Д.И. Горн [и др.] // Материалы XXVIII Международной научно-технической конференции по фотоэлектронике и системам технического зрения. М.: АО «НПО «Орион», 2026. С. 68‒69. DOI: 10.51368/978-5-94836-754-52026-68
3 Характеризация МДП-систем на основе структур LWIR nBn HgCdTe со сверхрешеткой в барьерной области / Д.И. Горн, А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, С.А. Дворецкий [и др.] // Материалы XXVIII Международной научно-технической конференции по фотоэлектронике и системам технического зрения. М.: АО «НПО «Орион», 2026. С. 436‒438. DOI: 10.51368/978-5-94836-754-52026-436
4 Электрофизические и фотоэлектрические характеристики nBn-структур на основе HgCdTe со сверхрешеткой в барьерной области для LWIR диапазона / Д.И. Горн, А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, С.А. Дворецкий [и др.] // Материалы XXVIII Международной научно-технической конференции по фотоэлектронике и системам технического зрения. М.: АО «НПО «Орион», 2026. С. 439‒441. DOI: 10.51368/978-5-94836-754-52026-439
5 Термодинамическая модель образования пирамидальных эпитаксиальных островков с различным контактным углом / К.А. Лозовой, В.В. Дирко, О. Кукенов, А.В. Войцеховский [и др.] // Кремний-2026: тезисы докладов XVI Конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе (Владивосток, 13–17 июля 2026 г.). Владивосток: Дальнаука, 2026. С. 42.
6 Электрические характеристики nB(SL)n - структур на основе HgCdTe для LWIR диапазона / А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, Д.И. Горн, С.А. Дворецкий [и др.] // XIV Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2025. С. 275‒276.
7 Влияние мягкого рентгеновского излучения на свойства границ раздела поверхностный диэлектрик – антимонид индия / А.В. Войцеховский, В.Г. Средин, А.П. Мелехов, Р.Ш. Рамакоти [и др.] // XI Международная конференция «Лазерные, плазменные исследования и технологии – ЛаПлаз-2025» : сборник научных трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 2025. С. 204.
8 Фотоэлектрические характеристики MWIR nBn-структур на основе HgCdTe со сверхрешеткой в качестве барьера / А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, Д.И. Горн, С.А. Дворецкий [и др.] // Нанофизика и наноэлектроника. XXIX симпозиум, 10–14 марта 2025 г., Нижний Новгород : тезисы докладов. Н. Новгород, 2025. С. 346.
9 Сравнительный анализ составов носителей заряда в эпитаксиальных пленках CdHgTe, выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией и имплантированных мышьяком, кремнием и бором / И.И. Ижнин, А.Г. Коротаев, А.В. Войцеховский, К.Д. Мынбаев [и др.] // Фотоника 2025 : тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), Новосибирск, 8-12 сентября 2025 г. / ИФП СО РАН. М.: Перо, 2025. С. 22.
10 Фоновое ограничение темнового тока в MWIR МЛЭ HgCdTe nBn фоточувствительной структуре со сверхрешёточным барьером / А.В. Войцеховский, С.М. Дзядух, Д.И. Горн, Н.Н. Михайлов [и др.] // Фотоника 2025 : тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), Новосибирск, 8-12 сентября 2025 г. / ИФП СО РАН. М.: Перо, 2025. С. 132.